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大功率2651A型数字源表进一步丰富了2600A系列产品。该源表专门针对大功率电子器件的特性分析和测试而优化设计,可帮助用户在研发、可靠性及生产领域提高生产力,包括高亮度LED、功率半导体、DC/DC转换器、电池,以及其他大功率材料、元件、模块和组件的特性分析和测试。

与2600A系列产品的每个成员一样,2651A具有高灵活性、四象限电压和电流源/负载,组合了精密电压和电流表。该源表可作为:

半导体特性分析仪器

电压或电流波形发生器

电压或电流脉冲发生器

精密电源

真电流源

数字多用表(直流电压,直流电流,电阻和功率,分辨率达5½位)

突破性特性 利益
n 两种测量模式: 数字化模式,18位A/D转换器 积分模式,22位A/D转换器 捕获瞬态行为,例如正在变化的热效应,采样率达1μs/点(1MHz)。 提供极其准确和可复现的测量结果
n 双A/D转换器用于每种测量模式 完全同时对电流和电压波形进行特性化和测量
n 全隔离的独立通道,500ns同步 提供更简捷、更快速且更灵活的连接和接地机制,实现SMU-per-pin测试
n 业界最宽的动态范围,用于电流源出和测量:1pA至50A (两台仪器时达100A) 测试各种各样的功率半导体和其他器件

PartII2651A的特性

两种测量模式:数字化或积分

2651A型有两种测量模式可对瞬态和稳态行为进行精密地特性分析,包括快速变化的热效应。每种模式均由其独立的模/数(A/D)转换器定义。

在数字化测量模式下,连续进行1μs/点采样,每秒可捕获1,000,000个读数。其18位A/D转换器使用户能够精密测量瞬态特性。对于更准确的测量,可利用基于22位A/D转换器的积分测量模式。全部2600A系列仪器均具有积分测量模式。

每种测量模式下使用两个A/D转换器(一个用于电流,另一个用于电压),可同时运行用于准确源读回,不会影响测试效率。

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双数字化A/D转换器以高达1μs/点速率进行连续采样,同时对电流和电压波形进行特性分析。

高速脉冲

2651A型能够准确输出和测量短至100μs的脉冲,将测试期间的自热效应影响降至最低。更大的控制灵活性使用户能够在100μs至DC范围内编程脉宽,在1%至100%范围内编程占空比。单台仪器可输出高达50A电流脉冲,两台组合可输出高达100A电流脉冲。

扩展能力

利用TSP-Link®,可将多台2651A和其他2600A系列仪器组合在一起,形成最多64路通道的更大集成系统。利用内置500ns触发控制器,确保精密定时和严格通道同步。源表仪器的完全隔离、独立通道确保了真正的SMU-per-pin测试。

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吉时利的TSP和TSP-Link技术确保实现真正的SMU-per-pin测试,不存在基于主机系统的功率和/或通道限制。

此外,两台2651A型采用TSP-Link并联时,电流量程从50A扩展至100A。当两个单元串联时,电压范围从40V扩展至80V。内置智能特性使多个单元可作为单台仪器进行寻址,简化了测试,由此形成业内最佳的动态范围(100A至1pA)。这种能力确保用户可测试各种各样的功率半导体和其他器件。

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高达50A(2个单元可达100A)的精密测量确保更完善和准确的特性分析。

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1μV测量分辨率和高达50A(2个单元可达100A)的电流源输出确保低电平Rds测量,支持新一代器件。

2600A系列仪器的标准能力

每款2651A均具备其他2600A系列仪器提供的全部特性和能力,包括:

既可作为台式I-V特性分析工具,又可作为多通道I-V测试系统的组成部分。

无需编程或安装,TSPExpress软件即可快速、简便地执行常见的I-V测试。

ACS基本版软件,用于半导体元器件特性分析(选件)。ACS基本版软件现在具备一种Trace模式,用于产生一套特性曲线。

吉时利的TSP®(测试脚本处理器)软件,能够创建用户自定义测试脚本,实现自动化程度更高的测试,并且支持创建编程序列,使仪器在没有PC直接控制的情况下异步工作。

多台2600A系列仪器连接在一个系统中,实现并行测试和精密定时。

符合LXIclassC标准。

14位I/O线,与探针台、元件装卸装置或其他自动化工具直接交互。

USB端口,利用USB存储装置实现更大的数据和程序存储空间。

PartIII2651A的应用领域

轻松支持当今具有挑战性的应用:

功率半导体、HBLED和光器件特性分析和测试

GaN、SIC及其他复合材料和器件的特性分析

半导体结温特性分析

高速、高精度数字化

电迁移研究

大电流、大功率器件测试

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1.每种测量模式下使用两个A/D转换器(一个用于电流,另一个用于电压),可同时运行用于准确源读回,不会影响测试效率。

当用于一个系统时,全部2600A系列的通道以500ns同步,实现真正的SMU-per-pin测试,主机不存在功率或通道限制。

2.将热效应降至最小,准确特性分析半导体结温效应

准确源出和测量短至100μs的脉冲,并且脉冲从100μs至直流、上升时间从25μs、占空比从1%至100%可编程。

捕获快速变化现象,速率达1,000,000读数/秒,连续1μs/点采样。

3.提高试验可靠性和可重复性

精密定时和严格的通道同步对当今的测试要求至关重要。2651A型具有一款高性能触发型号,精确控制每一源测量步骤的定时。它还严格同步通道之间和/或其他2600A系列仪器之间的工作,采用TSP-Link,硬件速度<500ns。更重要的是,SMU-per-pin测试防止测量和负载信号失真。这些功能可帮助您提高吞吐量,降低可能损坏DUT的影响,并获得高准确度和可复现的测量结果。

4.快速、简便地执行I-V测试

无需编程或安装,TSP®Express软件工具即执行常见的I-V测试。嵌入式测试脚本处理器(TSP®)使用户能够创建仪器可直接运行的脚本,进一步提高测试自动化。

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该TSPExpress测量屏幕所示为利用两台2651A单元并联获得100A脉冲能力。能够以图形或表格格式查看结果,然后导出至.csv格式文件,可用于电子表格软件。

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从基本测试到高级测试,利用TSPExpress都能快速、简便的配置。

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